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Analisi Diffrattometrica a Raggi X: identificare la struttura chimico-cristallografica dei materiali

Aggiornamento: 25 ago 2023

L’analisi diffrattometrica a raggi X, rappresenta una metodologia cruciale tra le prove non distruttive impiegate per l'analisi chimica dei materiali da costruzione. Questa tecnica di analisi consente di ottenere informazioni dettagliate sulla struttura cristallina dei materiali solidi, analizzando il campione ridotto in polvere.



Diffrattometria a raggi X: obiettivi dell'analisi

La Spettroscopia di Diffrattometria a Raggi X (o X-Ray Diffraction), si rivela altamente efficace nel rilevare i composti cristallini presenti in campioni di natura solida e cristallina, come pigmenti, sali inquinanti e materiali lapidei.


L'utilizzo della XRD nel campo dei materiali da costruzione comprende la determinazione della composizione del legante nelle malte e negli intonaci, l'individuazione di specifici composti che rivelano l'origine esatta degli aggregati, nonché l'identificazione della composizione di pigmenti e materiali corrosi.


La tecnica XRD generalmente richiede il prelievo di una piccola quantità di campione (pietre naturali, mattoni, leganti) che poi viene ridotto in polvere, per questo rientra di diritto tra le cosiddette prove “non distruttive”, adatte anche a edifici storici e patrimoni culturali.


Come funziona l’analisi diffrattometrica

La Diffrattometria a Raggi X si basa sul fenomeno ottico della diffrazione: un fascio di raggi X inviato attraverso il campione viene deviato o "diffratto" ad un angolo determinato dalla struttura cristallina dei composti presenti nello stesso.

Ogni composto produce uno o più segnali con un modello caratteristico, distintivo per ogni sostanza cristallina. Questo schema consente l'identificazione tramite il confronto con spettri di sostanze note. Tuttavia, questa metodologia non è applicabile a materiali di natura vetrosa o resinosa, a causa dell'assenza di una struttura reticolare definita.

Normativa di riferimento per la diffrattometria a raggi X

La pratica dell'Analisi Diffrattometrica a Raggi X trova la sua guida nella normativa UNI 10945:2001, che si concentra sulla caratterizzazione degli strati pittorici e fornisce una panoramica sulle metodologie analitiche impiegate in questo ambito.


Questo standard riveste un ruolo fondamentale nel garantire una metodologia coerente e affidabile nell'esaminare la struttura chimico-cristallografica delle sostanze solide cristalline attraverso l'utilizzo dei raggi X.

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