Diffrattometria a Raggi X
Normativa di riferimento:
UNI 10945:2001 - Beni culturali - Caratterizzazione degli strati pittorici - Generalità sulle tecniche analitiche impiegate
Scopo delle prova:
Individuare la natura chimica-cristallogracfica di una sostanza solida cristallina
Diffrattometria ai raggi X: finalità dell’analisi
La spettroscopia di Diffrazione a Raggi X (X-Ray Diffraction), tra le possibili analisi chimiche dei materiali da costruzione, è una tecnica molto efficace che consente di identificare i composti cristallini presenti in campioni solidi cristallini come ad esempio i pigmenti, sali inquinanti, materiali lapidei in genere. La tecnica XRD richiede quasi sempre il prelievo di una piccola quantità di campione che va ridotta in polvere.
Principio di funzionamento della prova
La tecnica diffrattometria ai raggi X è basata sul fenomeno ottico della diffrazione: un fascio di raggi X, inviato sul campione, viene deviato o, appunto, diffratto, secondo un angolo che dipende dalla struttura cristallina del composto o dei composti presenti. Ogni composto dà origine a uno o più segnali secondo un pattern caratteristico per ogni sostanza cristallina, tale da permettere l’identificazione per confronto con spettri di sostanze note. Questo metodo di indagine non fornisce informazioni su materiali di natura vetrosa o resinosa per via dell’assenza di una struttura reticolare disordinata.
